Testery AOI systemy inspekcji optycznej płyt PCB

Zaawansowana kontrola zatrzymuje wady u ich źródła

Zapewnij kompleksowy zasięg testu. Minimalizuj fałszywe połączenia. I przejdź do zaawansowanych narzędzi biblioteki obrazów z zaawansowaną pomocą algorytmiczną. Dzięki zautomatyzowanemu optycznemu systemowi inspekcji 3D serii K praktycznie nie ma miejsca na wady do ukrycia. Jego precyzyjny system metrologiczny eliminuje cienie, kadrowanie obrazu i zniekształcanie, zapewniając wiarygodne dane i wizualizację 3D w wysokiej rozdzielczości dla nawet najbardziej skomplikowanych geometrii produktu.

 K series 3D AOI

Krok bliżej do idealnej płytki drukowanej PCB

W drodze do idealnej płytki drukowanej PCB wszystko zaczyna się od danych z kontroli jakości. Nasze systemy serii K zapewniają kompleksowe pokrycie testu korpusu elementu i połączenia lutowanego poprzez połączenie tekstury 2D z zastrzeżoną inspekcją 3D bez cieni. Oznacza to, że możesz wykrywać i zapobiegać defektom, takim jak niewłaściwie umieszczone komponenty, podniesione przewody itp., Dzięki skalowalnemu rozwiązaniu do kontroli przed i po ponownym napełnieniu.

Ciągła poprawa przy niskiej liczbie fałszywych połączeń

W połączeniu z certyfikowanym w branży obrazów biblioteki Library Pro, seria K zapewnia łatwe programowanie i wymaga minimalnego dostrojenia, aby osiągnąć wyjątkowy poziom wydajności. Niezależnie od używanego procesu lub materiału, możesz znacznie zmniejszyć liczbę fałszywych połączeń i z czasem sprawności powyżej 99,5%. To połączenie inteligentnego oprogramowania i niezrównanej stabilności produkcji pozwala na ciągłe doskonalenie produktu w najbardziej wymagających środowiskach produkcyjnych.

 W pełni zintegrowana kontrola procesu

Oczywiście nawet najlepsze dane kontrolne wymagają inteligentnego zarządzania informacjami. W tym miejscu pojawia się nasz wiodący w branży pakiet oprogramowania SIGMA Link. Zapewnia on zunifikowane źródło danych do kontroli pasty lutowniczej (SPI) i danych automatycznej kontroli optycznej (AOI), dzięki czemu można przeglądać proces w czasie rzeczywistym, szybko przechodzić do szczegółów uszkodzić obraz i podjąć natychmiastowe działania naprawcze. W rezultacie spędzasz mniej czasu na korelowaniu baz danych, a więcej na dotarciu do głównej przyczyny każdej usterki. Wszystko to jest częścią naszych wysiłków, aby pomóc zwiększyć wydajność, jakość i powtarzalność przy każdym zadaniu - i przybliżyć Cię o krok do perfekcji.

Broszury

Broszura serii K.

Twój najlepszy partner

Mając ponad 40 lat w branży elektronicznej i wyjątkową pozycję na rynku, możesz na nas liczyć. Rozumiemy szybkie zmiany na rynku i mamy silną obecność lokalną w ponad 50 krajach, aby pomóc naszym klientom. Dostarczamy technologie, które są przyszłościowe i są poświęcone naszej misji i naszym klientom.

Seria K 3D

NOWA REFERENCJA DLA AUTOMATYCZNEJ KONTROLI OPTYCZNEJ

Seria K i K Seria 3D są wzorcem w automatycznej inspekcji optycznej (AOI), umożliwiając inspekcję 2D i 3D z bardzo niską częstotliwością fałszywych wywołań, zarówno dla reflow przed, jak i po reflow.

Są to najpotężniejsi strażnicy, którzy gwarantują wysoki poziom jakości zmontowanej płytki drukowanej.

 

Przesunięcie granic pokrycia defektów za pomocą K Series 3D

Seria K 3D umożliwia zwiększenie zasięgu testu, aby jednocześnie sprawdzić korpus elementu i złącze lutowane, bez uszczerbku dla czasu kontroli.
 

Technologia

Seria K i K Series 3D oferują skalowalne rozwiązanie dla szerokiego zakresu aplikacji,wymagających wysokiej niezawodności zautomatyzowanej kontroli optycznej i dokładnego
pokrycia wad.

• Czujnik 3D bez cieni
• 12-bitowa kamera CCD o rozdzielczości 8 megapikseli
• Telecentryczny obiektyw
• Oświetlenie LED z holograficznym kloszem
• Wysokoprecyzyjne silniki liniowe Powtarzalność 1 µm z liniowymi enkoderami optycznymi
• Rozdzielczość X, Y 20 µm, Rozdzielczość Z 1 µm
• Rekonstrukcja zasięgu 25 mm
• Dopasowywanie wzoru geometrycznego

Pełny zakres defektów

Zwiększ zasięg testu, dodając 3D do tradycyjnej kontroli 2D.

Korpus komponentu:

• Brakujący składnik
• Przesunięcie (X, Y, Z, θ)
• Nagrobek
• Biegunowość
• Współpłaszczyznowość
• Element do góry nogami
• OCR, OCV

Złącze lutowane:

• Brak połączenia, nadmiar pasty lutowniczej

• Bridging

• Podniesiony ołów

• Poduszka pod głowę

Zmniejsz liczbę fałszywych połączeń

Proponowane z biblioteką Pro, która jest certyfikowanym bankiem obrazów wad, seria K i seria K3D oferują łatwe programowanie i wymagają jedynie mniejszego dostrajania, aby
osiągnąć oczekiwany poziom wydajności w czasie. Niski współczynnik fałszywych wywołań i ucieczek do 50 ppm GRR (X, Y) <4% dla 01005 @ ± 50 μm Seria K i Seria K 3 Zapewnij
niezrównaną stabilność produkcji bez względu na zastosowany proces lub materiał. Z czasem sprawności wyższym niż 99,5%, seria K jest idealnym systemem do twojej produkcji.

 
Rozwiązania Vi TECHNOLOGY dla automatycznej kontroli optycznej to seria K do inspekcji 2D (2D AOI) i seria K K3D do inspekcji 3D (3D AOI)
Specyfikacja techniczna automatycznej inspekcji optycznej:

http://cherbsloeh.pl/attachments/category/327/Brochure-K3D-Series_EN_Rev06-2017-12.pdf